4200-SCS 半導體特性分析系統

4200-SCS半導體特性分析系統采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿足當前的測量需求，也可以模塊擴展以滿足后續的需求。 

支持多達9個精密直流源測量單元，能夠提供測量0.1fA到1A的電流或者1uV-210V的電壓； 

利用4210-CVU?-V）模塊可以方便的在1KHz-10MHz測試頻率下進行交流阻抗測試，可以測量的電容范圍從aF級到uF級； 
利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進行脈沖和瞬態測量。 

吉時利交互式測試環境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界面，無需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測試。它提供了多達456種標準的特性分析測試庫，包括MOSFET、BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽能電池、碳納米管和NVM存儲器，例如Flash、PRAM、PCRAM等。 

配備可滿足各類測試要求的高性價比探針臺系統。